Thông tin sản phẩm/ PRODUCTS /Kính hiển vi lực nguyên tử/qua đường hầm quét điện tử LT AFM/STM

Vật liệu đặc điểm / Vật tư tiêu hao
CNT(Ống nhựa nano) Huyền phù nano Silica AFM tips GRAPHENE Tekna Bột cầu hình / Bột nano
Thiết bị quá trình
Hệ thống lắng đọng nguyên tử Anric Hệ thống xử lý trước kính hiển vi quét Hệ thống kết tủa hóa học gia tăng bằng plama cho TEOS đa vi mạch Hệ thống etsing plasma cặp nhiệt đa phòng Hệ thống phủ mỏng gia tăng hóa học bằng điện từ (PECVD) Hệ thống phủ mỏng hoá học tăng cường plasma PP1000 PECVD Hệ thống phủ mỏng vật lý hơi PVD Hệ thống phủ lớp nguyên tử FlexAL ALD Máy phủ Osmon cao độ phân giải kính hiển vi điện tử
Thiết bị đo lường/phân tích
OEG Đo quang học SURAGUS Thiết bị đo điện trở tờ và độ dày màng không tiếp xúc SITA Độ sạch / Căng bề mặt / Phân tích đặc điểm bọt VINE Đo độ dày màng TEMIC SEM Kính hiển vi điện tử trên bàn (chất rắn/chất lỏng) XPS/ESCA Máy quang phổ điện tử tia X/Máy quang phổ điện tử tia X dùng cho phân tích hóa học Precision Máy chiếu X-ray trong tủ dành cho tế bào / động vật Unisoku IMAGE SPM Phân tích hình thái bề mặt STM Phân tích hình thái bề mặt SEM Phân tích hình thái bề mặt Nano-indenter Phân tích căng-đoạn của vật liệu
Thiết bị dò khí nhà máy
CM4 Thiết bị phát hiện khí qua băng giấy Vertex Thiết bị phát hiện khí qua băng giấy Vertex-M Thiết bị phát hiện khí qua băng giấy MIDAS Thiết bị phát hiện khí theo nguyên tắc điện hóa học MIDAS-M Thiết bị phát hiện khí theo nguyên tắc điện hóa học Satellite XT Thiết bị phát hiện khí theo nguyên tắc điện hóa học ACM 150 FT-IR Hệ thống giám sát khí Sensepoint XCD Thiết bị phát hiện khí chống nổ RAEGuard 2 PID Thiết bị phát hiện hợp chất hữu cơ bay hơi (VOC) SPM Flex Thiết bị phát hiện khí qua băng giấy MIDAS Bộ dò khí di động BW Clip4 Thiết bị dò khí đa khí đa năng di động BW Ultra Thiết bị dò khí đa khí đa năng di động BW SoloBộ dò di động Riken Bộ dò điện hóa học Vertex Edge紙帶式氣體偵測器 Máy dò khí băng giấy Bộ phát hiện khí điện hóa FT-IR Hệ thống giám sát khí tập trung Máy dò khí chống cháy nổ Máy dò khí cầm tay
Thiết bị sản xuất
OIPT CVI TANKA Thiết bị chế tạo vật liệu nano và hình cầu SURAGUS Thiết bị đo điện trở tờ và độ dày màng không tiếp xúc Máy cắt tách wafer SELA
Bán dẫn
Hệ thống phun hạt vi Dịch vụ phun hạt vi SELA Máy quang phổ điện tử tia X/Máy quang phổ điện tử tia X dùng cho phân tích hóa học HoneyWell
lĩnh vực học thuật
Hệ thống Cryogenic Bluefors Hệ thống Cryogenic CIA Kính hiển vi quét qua khe hở RHK Kính hiển vi quét qua khe hở Unisoku Thiết bị chịu nhiệt độ cao CVI Máy quang phổ điện tử tia X/Máy quang phổ điện tử tia X dùng cho phân tích hóa học Qdevil Bộ phận điện tử cực lạnh/ lượng tử Nghiên cứu lượng tử
Hệ thống phát hiện khí và tích hợp giám sát nhà máy
Kính hiển vi lực nguyên tử/qua đường hầm quét điện tử LT AFM/STM
Kính hiển vi lực nguyên tử/qua đường hầm quét điện tử LT AFM/STM
Kính hiển vi lực nguyên tử/qua đường hầm quét điện tử LT AFM/STM

Kính hiển vi lực nguyên tử/qua đường hầm quét điện tử LT AFM/STMKính hiển vi lực nguyên tử/qua đường hầm quét điện tử LT AFM/STM

specification：

Hệ thống phân tích bề mặt QuadraProbe đảm bảo mẫu và 4 đầu dò STM hoạt động ổn định trong thời gian dài ở nhiệt độ 10K, với độ phân giải của mỗi đầu dò đạt đến mức phân giải tầng nguyên tử. Trên đầu dò STM, có SEM có độ phân giải cao được cấu hình để định vị và điều hướng thô của đầu dò. Phòng phân tích mẫu còn được trang bị các thiết bị như XPS, UPS, ISS, Auger, LEED và SAM. Công ty RHK đã trang bị bộ điều khiển R9 tiên tiến nhất vào hệ thống QuadraProbe này, người dùng có thể kiểm soát riêng lẻ từng đầu dò trong hệ thống.


 

Contact window： sales@scientek-co.com
Inquiry cart Original link

DESCRIPTION

Hệ thống phân tích bề mặt QuadraProbe đảm bảo mẫu và 4 đầu dò STM hoạt động ổn định trong thời gian dài ở nhiệt độ 10K, với độ phân giải của mỗi đầu dò đạt đến mức phân giải tầng nguyên tử. Trên đầu dò STM, có SEM có độ phân giải cao được cấu hình để định vị và điều hướng thô của đầu dò. Phòng phân tích mẫu còn được trang bị các thiết bị như XPS, UPS, ISS, Auger, LEED và SAM. Công ty RHK đã trang bị bộ điều khiển R9 tiên tiến nhất vào hệ thống QuadraProbe này, người dùng có thể kiểm soát riêng lẻ từng đầu dò trong hệ thống.