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X射線光電子能譜儀 / 化學分析電子能譜儀X射線光電子能譜儀 / 化學分析電子能譜儀
特色與效益表面分析儀器
表面化學和薄膜特性分析
表面定量化學識別
DESCRIPTION
X射線光電子能譜儀（XPS），也被稱為化學分析電子能譜儀（ESCA），是一種高度表面敏感、定量化的化學分析技術，可用於解決各種材料問題。
XPS測量的是受到X射線照射的材料表面上被抽出的光電子。測量的是這些被抽出的光電子的運動能量，該能量直接關聯到其在原子內的結合能；這是元素及其化學狀態的特徵。
只有靠近表面產生的電子才能在不損失太多能量的情況下逃逸並被檢測到；這意味著XPS數據是從表面的前幾奈米收集的。正是這種表面選擇性，結合定量化學狀態識別，使得XPS在廣泛的應用領域中非常有價值。
Nexsa XPS 系統 - 獨特的相關光譜學
具備卓越性能的XPS，實現無縫多技術整合。
Thermo Scientific™ Nexsa™ 表面分析系統是一款完全自動化的多技術儀器。它具備了全新的微焦點X射線源，提供高靈敏度和高空間分辨率的XPS。此外，該系統還提供其他表面分析技術的選項：UPS、ISS和REELS。獨特的是，還可以選擇集成拉曼光譜儀，與XPS分析位置對齊，實現真正的相關光譜學。憑藉這些功能，Nexsa 在半導體、二維材料、薄膜、電池、聚合物和許多其他應用領域中展現了新的見解。• 高性能XPS
• 快速的SnapMap XPS影像
• 深度剖析
• 可選的多技術整合
––拉曼光譜（Raman）
––離子散射光譜（ISS）
––波段上升光譜（UPS）
––反向光子能譜（REELS）
• MAGCIS離子源，擴展深度剖析能力
• 大樣本處理能力
• Avantage軟件用於儀器控制、數據處理和報告
• 可選的空氣敏感樣品轉移能力
ESCALAB Xi+ XPS微探針 - 高性能和多功能性
將高性能XPS與靈活的樣品相結合
Thermo Scientific™ ESCALAB™ Xi+ XPS微探針是我們著名的ESCALAB產品系列的最新開發。ESCALAB Xi+設計為一個可擴展的、多技術的平台，具有無與倫比的靈活性和可配置性。 系統控制、數據獲取、處理和報告均由強大的軟體無縫集成。Thermo Scientific™ Avantage™ XPS軟體
• 高解析度的定量XPS影像，用於最小特徵分析
• 高性能光譜學 • 深度剖析的離子源
• 絕緣體分析的漫射源
• 标准的離子散射光譜（ISS）
• 标准的反射電子能量損失光譜（REELS）
• 可選的附加技術：
––紫外光電子能譜（UPS）
––奧格電子能譜（AES）
––微區分析（EDS）
• 可選的MAGCIS雙模式離子源
• 完整的樣品準備選項：
––樣品加熱和冷卻
––斷裂台
––惰性轉移
K-Alpha XPS 系統 - 設計用於提高生產力
將XPS表面分析變得常規化
Thermo Scientific™ K-Alpha™ 光譜儀是為研究和常規XPS分析需求而設計的。高性能的系統硬體使K-Alpha光譜儀非常適合在繁忙的研發環境中創建世界級的數據。直觀的工作流程將K-Alpha光譜儀應用於多用戶共享設施成為可能，使各級技術人員能夠將表面分析添加到他們的材料分析組合中。
• 高性能、功能齊全的XPS系統
• 獨特的樣品觀察功能，有助於快速特徵識別
• 化學狀態影像
• 大樣本處理能力
• 可變微焦點X射線源，以匹配分析區域和特徵
• 離子源用於深度剖析
• 低能量漫射源用於絕緣體分析
• 內建的標準物質進行自我校準
