非接觸式-片電阻和膜厚測量儀 (Mapping)非接觸式-片電阻和膜厚測量儀 (Mapping)
特色與效益
片電阻(Rs)測量
EddyCus® TF Mapping 系列是特別設計,為在玻璃、晶圓、,塑膠或箔片上的導電薄膜(TCO)的測量系統,為單點自動化的非接觸式方法,測量2D mapping 片電阻值和膜厚的分布。例如ITO, 金屬箔片、金屬片,碳纖維材料等。
DESCRIPTION
產品敘述
片電阻(Rs)測量
EddyCus® TF Mapping 系列是特別設計,為在玻璃、晶圓、,塑膠或箔片上的導電薄膜(TCO)的測量系統,為單點自動化的非接觸式方法,測量2D mapping 片電阻值和膜厚的分布。例如ITO, 金屬箔片、金屬片,碳纖維材料等。
應用面:
· 建築用玻璃
· 觸碰螢幕和平面顯示器
· OLED and LED 應用
· Smart-glass應用
· 透明抗靜電箔片
· Solar cell 太陽能電池
· 除冰和加熱應用
· 石墨稀電性測量
· ITO/PET
· Ag nanowires