产品资讯/ PRODUCTS /

特性材料/耗材
二氧化矽奈米悬浮 AFM tips GRAPHENE Tekna 球形化粉末/奈米粉末
制程设备
原子沉积系统Anric 電子显微镜前处理系统 Meiwafosis 电浆增强化学气相沉积系统TEOS多片机 感应耦合电浆蚀刻系统多片机 电浆增强化学气相沉积系统(PECVD) 电浆增强化学气相沉积系统PP1000 PECVD 物理气相沉积系统PVD 原子层沉积系统FlexAL ALD 电子显微镜高分辨率Osmium镀膜机
量测/分析仪器
OEG 光学量测 SURAGUS 非接触式-片电阻和膜厚测量仪 SITA 洁净度 / 表面张力 / 泡沫特性分析 VINE 膜厚量测 XPS/ESCA X光光电子能谱仪/化学分析电子能谱 Precision 细胞/动物用X-ray柜式照射仪 Unisoku IMAGE SPM 表面形貌分析 STM 表面形貌分析 SEM表面形貌分析 Nano-indenter 材料应力应变分析
厂务气体侦测器
纸带式气体侦测器 电化学气体检测仪 FT-IR 集中式气体监控系统 防爆型气体侦测器 可携式气体侦测器 泄漏感测侦测
成品/生产设备
OIPT CVI TANKA 奈米与球型化材料制备设备 SURAGUS非接触式-片电阻和膜厚测量仪 晶圆劈裂机SELA
半导体
微粒子撒粒系统 微粒子撒粒服务 SELA X光光电子能谱仪/化学分析电子能谱 HoneyWell
学术领域
极低温系统 Bluefors 极低温系统 CIA 扫描穿隧道显微镜 RHK 扫描穿隧道显微镜 Unisoku 高温设备 CVI X射线光电子能谱仪 / 化学分析电子能谱仪 量子研究/ Quantum research
气体侦测系统及厂务监控整合