제품 정보/ PRODUCTS /온도조절/사점-초고진공 스캔 터널링 현미경 VT UHV 4-Probe SPM USM-1400-4P
온도조절/사점-초고진공 스캔 터널링 현미경 VT UHV 4-Probe SPM USM-1400-4P온도조절/사점-초고진공 스캔 터널링 현미경
specification：
특징
● 우수한 디와 디자인으로 5K에서의 액체 헬륨 소비량은 2L/일입니다.
● 프로브 팁과 샘플을 동시에 냉각하여 낮은 냉각 온도에서 2K에서 실온 범위 내에서 변온할 수 있습니다.
● 각 프로브는 개별적으로 SPM 측정을 수행할 수 있습니다.
● 다양한 액세서리가 갖추어져 있어 확장이 용이합니다.
용도
● 저온에서의 SPM 측정, 샘플 표면의 전자 상태 관찰.
● 이동 측정.
DESCRIPTION
USM-1400-4P 시리즈는 USM-1400 플랫폼을 기반으로 개발된 다중 프로브 측정 시스템으로서, 스캔 전자현미경이나 광학 현미경에서 실시간으로 프로브 위치를 참조하여 표면 미세 구조의 이동 측정이나 기타 측정을 수행할 수 있습니다. 고객의 요구에 따라 각 프로브는 개별적으로 SPM(Scanning Probe Microscopy) 측정을 수행할 수 있습니다. 이 시스템에서는 프로브 팁과 샘플을 동시에 2.5K에서 실온까지 넓은 온도 범위에서 변온 작업을 할 수 있으며, 특정 온도에서 장기간의 스캔 터널 스펙트럼 측정을 지속적으로 수행할 수 있어 기초 연구 분야에서 필수적인 도구입니다!
특징
● 우수한 디와 디자인으로 5K에서의 액체 헬륨 소비량은 2L/일입니다.
● 프로브 팁과 샘플을 동시에 냉각하여 낮은 냉각 온도에서 2K에서 실온 범위 내에서 변온할 수 있습니다.
● 각 프로브는 개별적으로 SPM 측정을 수행할 수 있습니다.
● 다양한 액세서리가 갖추어져 있어 확장이 용이합니다.
용도
● 저온에서의 SPM 측정, 샘플 표면의 전자 상태 관찰.
● 이동 측정.
