제품 정보/ PRODUCTS /저온 원자력/주사 터널링 현미경 LT AFM/STM
저온 원자력/주사 터널링 현미경 LT AFM/STM저온 원자력/주사 터널링 현미경 LT AFM/STM
specification：
QuadraProbe 사 표면 분석 시스템은 샘플과 4개의 STM 프로브가 10K에서 오랜 시간 안정적으로 작동하도록 보장합니다. 각각의 프로브의 해상도는 원자 수준의 해상도에 도달합니다. 4개의 프로브 위에는 고해상도 SEM이 장착되어 프로브의 대략적인 위치 조정 및 내비게이션에 사용됩니다. 샘플 분석실에는 XPS, UPS, ISS, Auger, LEED 및 SAM 등이 선택 가능합니다. RHK 회사는 최첨단 R9 컨트롤러를 QuadraProbe 시스템에 구성하여 사용자가 4개의 프로브를 독립적으로 제어할 수 있습니다.
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DESCRIPTION
QuadraProbe 사 표면 분석 시스템은 샘플과 4개의 STM 프로브가 10K에서 오랜 시간 안정적으로 작동하도록 보장합니다. 각각의 프로브의 해상도는 원자 수준의 해상도에 도달합니다. 4개의 프로브 위에는 고해상도 SEM이 장착되어 프로브의 대략적인 위치 조정 및 내비게이션에 사용됩니다. 샘플 분석실에는 XPS, UPS, ISS, Auger, LEED 및 SAM 등이 선택 가능합니다. RHK 회사는 최첨단 R9 컨트롤러를 QuadraProbe 시스템에 구성하여 사용자가 4개의 프로브를 독립적으로 제어할 수 있습니다.