SITA 청결 모니터링(온라인) Line CISITA 청결 모니터링(온라인) Line CI

specification:
SITA Clean Line CI는 제조 과정에서 부품 표면에 필름 형태의 오염 물질(예: 오일, 윤활제, 이형제)이 있는지 모니터링하는 인라인 형광 검사 시스템입니다. 또한 코팅(예: 방청유 또는 사전 접착 프라이머)의 두께를 측정하여 후속 제조 공정(접착, 도장, 용접, 경화 등)에서 일관된 품질을 보장합니다.

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DESCRIPTION

주요 용도

청결도 검사: 코팅 전 와이어, 파이프, 강판의 표면 청정도를 측정합니다.

잔류물 검출: 알루미늄 다이캐스트 부품 표면에 이형제 잔여물이 있는지 확인합니다(접착 전).

기능성 표면 검사: 레이저 세척, 초미세 플라즈마 세척, CO₂ 제설 후 표면 검증.

프라이머/부식 방지제 검사: 코팅 두께 및 균일도 모니터링.

대형 금속 부품 검사: 도장 및 인쇄 전 청정도 검사.

오염 분포 분석: 제조 공정 중 표면 오염 분포를 온라인으로 모니터링.

측정 원리

산업 공정에서 그리스 및 윤활제와 같은 오염물은 자외선에 의해 여기되면 형광을 냅니다.

형광 강도는 오염층의 두께에 비례합니다.

이 시스템은 정량화를 위해 상대 형광 단위(RFU)를 사용합니다. 값이 낮을수록 표면이 더 깨끗합니다.

시스템 특징

비접촉식 비파괴 검사

공정 분석 및 최적화를 위한 실시간 모니터링 및 기록

확장 가능한 다중 센서 시스템으로 다중 라인 또는 대형 부품 검사 지원

모듈형 설계, 공정 요구 사항에 따른 하드웨어/소프트웨어 맞춤 설정 가능

로봇 팔 및 자동화 생산 라인과 통합 가능

기술 사양(센서)

측정 범위: 0 ~ 2000 RFU

편차: 측정 범위의 최대 0.5%

광원: UV LED, 365nm, 150mW

감지 파장: 460nm

측정 스팟 직경: 1mm

측정 거리: 4.7mm

샘플링 주파수: 최대 100Hz

표면 속도: 최대 10m/s

인터페이스: RS-485

크기: 95 × 50 × 30mm

무게: 200 g

전원 공급: 24V DC

제어 및 소프트웨어

산업용 PC 컨트롤러(제어 캐비닛 내부), EtherCAT 아키텍처, 다중 센서 지원

SITA ProcessControl 소프트웨어: 실시간 데이터 처리, 시각화, 센서 보정, 데이터 저장 및 분석

상위 레벨 프로세스 제어 시스템과의 통합 지원

터치스크린 디스플레이(옵션)

네트워크 데이터 액세스 및 분석 지원