產品資訊/ PRODUCTS /非接觸式-片電阻和膜厚測量儀EddyCus® TF lab 2020SR 系列
非接觸式-片電阻和膜厚測量儀EddyCus® TF lab 2020SR 系列EddyCus® TF lab 2020SR 系列
規格：
片電阻(Rs)測量
EddyCus® TF lab 系列是特別設計，為在玻璃、晶圓、,塑膠或箔片上的導電薄膜的測量系統，為單點非接觸式的方法，即時測量薄厚和片電阻值。這系列的儀器也適用於即時測量導電材料的厚度，例如金屬箔片、金屬片等。
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DESCRIPTION
產品敘述片電阻(Rs)測量
EddyCus® TF lab 系列是特別設計，為在玻璃、晶圓、,塑膠或箔片上的導電薄膜的測量系統，為單點非接觸式的方法，即時測量薄厚和片電阻值。這系列的儀器也適用於即時測量導電材料的厚度，例如金屬箔片、金屬片等。
應用面:
· 建築用玻璃
· 觸碰螢幕和平面顯示器
· OLED and LED 應用
· Smart-glass應用
· 透明抗靜電箔片
· Solar cell 太陽能電池
· 除冰和加熱應用
· 石墨稀電性測量
ITO/PET
Ag nanowires
