產品資訊/ PRODUCTS /Vine 薄膜厚度檢測儀
Vine 薄膜厚度檢測儀Vine 薄膜厚度檢測儀
規格：
- 奈米至微米級厚度量測範圍(500 nm–400 ㎛)
- 非接觸式和非破壞式檢測
- 適用各種基材(wafer, glass, metal, plastic etc.)
- 操作簡易快速
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DESCRIPTION
應用範圍：§半導體：SiO2、Si3N4、SiC、TiO2、氮化鍍層、光阻劑（例如：SU-8）
§平板顯示器、觸控面板、太陽能電池：TCO、CdS、CIGS、ZnO、電池間隙、ITO、MgO、Al2O3
§PCB保護塗層
§硬質塗層
§隱形眼鏡塗層
§薄膜：PET、PMMA、PE、塗層膜、壓克力樹脂、AR塗層
