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DESCRIPTION

X 射線光電子能譜（XPS，也稱為化學分析電子能譜 - ESCA）是一種高度表面敏感的定量化學分析技術，可用於解決各種材料問題。

XPS 是對從受 X 射線照射的材料表面發射的光電子進行測量。測量發射的光電子的動能，這與它們在母原子內的結合能直接相關；這是元素及其化學狀態的特徵。
只有在表面附近產生的電子才能逃逸，而不會損失太多用於檢測的能量；這意味著 XPS 數據是從表面的頂部幾納米處收集的。正是這種表面選擇性與定量化學態識別相結合，使得 XPS 在眾多應用領域中如此有價值。

Nexsa XPS 系統 - 獨特的相關光譜

具有無縫多技術集成的高性能 XPS
 
Thermo Scientific™ Nexsa™ 表面分析系統是一款全自動、多技術儀器。它採用新型微焦點 X 射線源，可提供高靈敏度和高空間分辨率 XPS。此外，該系統還提供其他表面分析技術的選項：UPS、ISS 和 REELS。獨特的是，還可以選擇集成拉曼光譜儀，與 XPS 分析位置對齊，以獲得真實的相關光譜。憑藉這些功能，Nexsa 釋放了半導體、2D 材料、薄膜、電池、聚合物和許多其他應用領域新見解的潛力。
• 高性能XPS
• 快速 SnapMap XPS 成像
• 深度剖析 • 可選的多技術集成
––Raman
––ISS
––UPS
––REELS
• MAGCIS 離子源可擴展深度分析功能
• 大量樣品處理
• 用於儀器控制、數據處理和報告的 Avantage 軟件
• 可選傳輸空氣敏感樣品的能力

ESCALAB Xi+ XPS 微探針 - 性能和多功能性

將高性能 XPS 與靈活的樣品製備相結合
 
Thermo Scientific™ ESCALAB™ Xi+ XPS 微探針是我們著名的 ESCALAB 產品線的最新開發產品。 ESCALAB Xi+ 被設計為一個可擴展的多技術平台，具有無與倫比的靈活性和可配置性。 系統控制、數據採集、處理和 報告由強大的無縫集成
Thermo Scientific™ Avantage™ XPS 軟件
• 高分辨率、定量XPS 成像，用於最小特徵分析
• 高性能光譜
• 用於深度分析的離子源
• 用於絕緣子分析的洪水源
• 標準離子散射光譜 (ISS)
• 反射電子能量損失光譜（REELS）作為標準
• 可選的附加技術：
––紫外光電子能譜（UPS）
––俄歇電子能譜（AES）
––微量分析（EDS）
• 可選MAGCIS 雙模式離子源
• 全系列樣品製備選項：
––樣品加熱和冷卻
—斷裂階段
––惰性轉移
 
K-Alpha XPS 系統 - 專為提高生產力而設計
制定 XPS 表面分析常規 
Thermo Scientific™ K-Alpha™ 光譜儀滿足研究和常規 XPS 分析的要求。高性能係統硬件使 K-Alpha 光譜儀非常適合在繁忙的研發環境中創建世界一流的數據。直觀的工作流程使得將 K-Alpha 光譜儀放入多用戶共享設施中成為可能，從而允許各種技能水平的操作員將表面分析添加到其材料分析產品組合中。

• 高性能、功能齊全的XPS 系統
• 獨特的樣品查看功能能夠促進快速 特徵識別
• 化學態成像
• 大量樣品處理
• 可變微焦點X射線源以匹配 分析區域特徵
• 用於深度分析的離子源
• 用於絕緣子分析的低能量洪水源
• 內置自校準標準
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