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掃描探針影像處理軟體品牌Image Metrology
規格：
SPIP為專業級的微奈米尺度影像分析軟體。目前在全球已超過60個國家，上千個主要研究機構以上使用。其支持儀器分析類型包含：掃描探針顯微術、原子力顯微術、掃描穿隧顯微術、電子顯微術、穿透式電子顯微術、干涉儀、共軛焦顯微術、光顯顯微術等各式影像檢測技術。
聯繫窗口： sales@scientek-co.com
DESCRIPTION
目前具備13種特定功能，提供半導體檢驗、物理、化學、生物學、計量、奈米科技等等領域。其功能如下：
基礎表面分析功能
ImageMet影像管理模組
三維可視化工作模組
影像過濾模組
粗糙度分析模組
粒子與孔徑分析模組
延伸傅立葉分析功能
批次處理功能
力曲線分析功能
探針特性分析模組
校正功能模組
影像拍攝與時間序列模組
CITS光譜功能
