變溫原子力/ 穿隧顯微鏡VT AFM/STM變溫原子力/ 穿隧顯微鏡VT AFM/STM

規格:

RHK變溫-變磁場掃描探針顯微鏡系統(STM/AFM)具有以下五個特點:

1)在SPM掃描過程中連續變化磁場,且無需將SPM探針退回;
2)所施加的磁場為平面內的,最高達10,000高斯;樣品尺寸約1cm;
3)利用電磁鐵提供可逆、連續變化的磁場;
4)磁場強度精確可控,重複性極佳;
5)對SPM掃描精度、解析度、穩定性和振動隔離等方面沒有任何影響。

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DESCRIPTION

RHK變溫-變磁場掃描探針顯微鏡系統(STM/AFM)具有以下五個特點:

1)在SPM掃描過程中連續變化磁場,且無需將SPM探針退回;
2)所施加的磁場為平面內的,最高達10,000高斯;樣品尺寸約1cm;
3)利用電磁鐵提供可逆、連續變化的磁場;
4)磁場強度精確可控,重複性極佳;
5)對SPM掃描精度、解析度、穩定性和振動隔離等方面沒有任何影響。