Kính hiển vi quét hình ảnh từng điểm quét, có khả năng biến đổi nhiệt độ - siêu chân khôngKính hiển vi quét hình ảnh từng điểm quét, có khả năng biến đổi nhiệt độ - siêu chân không

specification:

Đặc điểm
● Thiết kế Dewar xuất sắc, tiêu thụ helium lỏng ở 5K là 2L/ngày.
● Nhiệt độ thấp và có thể biến đổi nhiệt độ trong khoảng từ 2K đến nhiệt độ phòng.
● Nền tảng quang học ba chiều di động trực tiếp, hiệu suất thu phóng ánh sáng lớn hơn 9%.
● Trường từ trực tiếp mạnh, tối đa 1 Tesla.
●Đầu quét hoạt động rất ổn định, độ phân giải năng lượng tốt hơn 0.1meV.
● Đầy đủ các phụ kiện, dễ mở rộng.

Ứng dụng
● Đo lường SPM dưới nhiệt độ thấp, quan sát trạng thái điện tử bề mặt mẫu.
● Nghiên cứu phổ quét tự động trong quét từ.
●Nghiên cứu quang học từ trường bề mặt.

Contact window: sales@scientek-co.com

DESCRIPTION

Dòng USM-1400 là một nền tảng được tùy chỉnh dành cho người dùng trong các lĩnh vực nghiên cứu khoa học khác nhau. Nó không chỉ có khả năng thực hiện các chức năng đo lường của SPM ở nhiệt độ thấp, mà còn có thể kết hợp với ống kính trực tiếp và từ trường trực tiếp để đáp ứng các yêu cầu đo lường của người dùng.
Hệ thống này có thể thực hiện phạm vi nhiệt độ rộng từ 2.5K đến nhiệt độ phòng, và cũng có thể duy trì đo lường dải phổ quét tự động lâu dài ở một nhiệt độ cố định. Đây là một công cụ không thể thiếu trong lĩnh vực nghiên cứu cơ bản!


Đặc điểm
● Thiết kế Dewar xuất sắc, tiêu thụ helium lỏng ở 5K là 2L/ngày.
● Nhiệt độ thấp và có thể biến đổi nhiệt độ trong khoảng từ 2K đến nhiệt độ phòng.
● Nền tảng quang học ba chiều di động trực tiếp, hiệu suất thu phóng ánh sáng lớn hơn 9%.
● Trường từ trực tiếp mạnh, tối đa 1 Tesla.
●Đầu quét hoạt động rất ổn định, độ phân giải năng lượng tốt hơn 0.1meV.
● Đầy đủ các phụ kiện, dễ mở rộng.

Ứng dụng
● Đo lường SPM dưới nhiệt độ thấp, quan sát trạng thái điện tử bề mặt mẫu.
● Nghiên cứu phổ quét tự động trong quét từ.
●Nghiên cứu quang học từ trường bề mặt.