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X射线光电子能谱仪 / 化学分析电子能谱仪X射线光电子能谱仪 / 化学分析电子能谱仪
特色與效益表面分析仪器
表面化学和薄膜特性分析
表面定量化学识别
DESCRIPTION
X射线光电子能谱仪（XPS），也被称为化学分析电子能谱仪（ESCA），是一种高度表面敏感、定量化的化学分析技术，可用于解决各种材料问题。 XPS测量的是受到X射线照射的材料表面上被抽出的光电子。测量的是这些被抽出的光电子的运动能量，该能量直接关联到其在原子内的结合能；这是元素及其化学状态的特征。 只有靠近表面产生的电子才能在不损失太多能量的情况下逃逸并被检测到；这意味着XPS数据是从表面的前几纳米收集的。正是这种表面选择性，结合定量化学状态识别，使得XPS在广泛的应用领域中非常有价值。
Nexsa XPS 系统 - 独特的相关光谱学
具备卓越性能的XPS，实现无缝多技术整合。
Thermo Scientific™ Nexsa™ 表面分析系统是一款完全自动化的多技术仪器。它具备全新的微焦点X射线源，提供高灵敏度和高空间分辨率的XPS。此外，该系统还提供其他表面分析技术的选项：UPS、ISS和REELS。独特的是，还可以选择集成拉曼光谱仪，与XPS分析位置对齐，实现真正的相关光谱学。凭借这些功能，Nexsa 在半导体、二维材料、薄膜、电池、聚合物和许多其他应用领域中展现了新的见解。• 高性能XPS
• 快速的SnapMap XPS影像
• 深度剖析
• 可选的多技术整合
––拉曼光谱（Raman）
––离子散射光谱（ISS）
––波段上升光谱（UPS）
––反向光子能谱（REELS）
• 大样本处理能力
• Avantage软件用于仪器控制、数据处理和报告
• 可选的空气敏感样品转移能力
ESCALAB Xi+ XPS微探针 - 高性能和多功能性
将高性能XPS与灵活的样品相结合
Thermo Scientific™ ESCALAB™ Xi+ XPS微探针是我们著名的ESCALAB产品系列的最新开发。ESCALAB Xi+设计为一个可扩展的、多技术的平台，具有无与伦比的灵活性和可配置性。系统控制、数据获取、处理和报告均由强大的软件无缝集成。
Thermo Scientific™ Avantage™ XPS软件
• 高分辨率的定量XPS影像，用于最小特征分析
• 高性能光谱学
• 深度剖析的离子源
• 绝缘体分析的漫射源
• 标准的离子散射光谱（ISS）
• 标准的反射电子能量损失光谱（REELS）
• 可选的附加技术：
––紫外光电子能谱（UPS）
––奥古尔电子能谱（AES）
––微区分析（EDS）
• 可选的MAGCIS双模式离子源
• 完整的样品准备选项：
––样品加热和冷却
––断裂台
––惰性转移
将XPS表面分析变得常规化
Thermo Scientific™ K-Alpha™ 光谱仪是为研究和常规XPS分析需求而设计的。高性能的系统硬件使K-Alpha光谱仪非常适合在繁忙的研发环境中创建世界级的数据。直观的工作流程使得将K-Alpha光谱仪应用于多用户共享设施成为可能，使各级技术人员能够将表面分析添加到他们的材料分析组合中。
• 高性能、功能齐全的XPS系统
• 独特的样品观察功能，有助于快速特征识别
• 化学状态成像
• 大样本处理能力
• 可变微焦点X射线源，以匹配分析区域和特征
• 离子源用于深度剖析
• 低能量漫射源用于绝缘体分析
• 内置的标准物质进行自我校准
