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潘氏低温原子力/ 穿隧显微镜LT AFM/STM潘氏低温原子力/ 穿隧显微镜LT AFM/STM
特色與效益 潘式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的，主要特点包括：- PAN STM/AFM扫描头体积极小（2.96”X1.55”)
- 样品X-Y-Z方向的大范围移动（5mmX5mmX10mm）
- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围
- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统，原位针尖与样品更换
- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体
- 与RHK最新全数字R9控制器一同使用
适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。
DESCRIPTION
潘式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的，主要特点包括：
- PAN STM/AFM扫描头体积极小（2.96”X1.55”)
- 样品X-Y-Z方向的大范围移动（5mmX5mmX10mm）
- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围
- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统，原位针尖与样品更换
- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体
- 与RHK最新全数字R9控制器一同使用
适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。
