非接触式-片电阻和膜厚测量仪 (Inline monitoring)非接触式-片电阻和膜厚测量仪 (Inline monitoring)

特色與效益

在线片电阻测量:

  • 无接触式
  • 实时性
  • 高采样率(每秒1-300个样本/通道及更多)
  • 大测量间隙(1-60毫米间隙)
  • 1-99个测量通道
  • 真空内和真空外
  • 紧凑型硬件
聯繫窗口:sales@scientek-co.com

DESCRIPTION

EddyCus® TF Inline系列是特别设计的测量系统,用于在连续涂覆、导电薄膜、金属薄膜中实时测量薄膜厚度和片电阻值。该系列仪器采用单点(多点)非接触方法,适用于实时测量导电材料的厚度,如TCO、金属箔、金属片等。

在线片电阻测量:

  • 无接触式
  • 实时性
  • 高采样率(每秒1-300个样本/通道及更多)
  • 大测量间隙(1-60毫米间隙)
  • 1-99个测量通道
  • 真空内和真空外
  • 紧凑型硬件