产品资讯/ PRODUCTS /非接觸式-片電阻和膜厚測量儀EddyCus® TF Mapping 系列
非接觸式-片電阻和膜厚測量儀EddyCus® TF Mapping 系列EddyCus® TF Mapping 系列
規格：
片电阻(Rs)测量
EddyCus® TF Mapping 系列是特别设计，为在玻璃、晶圆、,塑料或箔片上的导电薄膜(TCO)的测量系统，为单点自动化的非接触式方法,测量2D mapping 片电阻值和膜厚的分布。例如ITO, 金属箔片、金属片,碳纤维材料等。
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DESCRIPTION
产品叙述片电阻(Rs)测量
EddyCus® TF Mapping 系列是特别设计，为在玻璃、晶圆、,塑料或箔片上的导电薄膜(TCO)的测量系统，为单点自动化的非接触式方法,测量2D mapping 片电阻值和膜厚的分布。例如ITO, 金属箔片、金属片,碳纤维材料等。
应用面:
· 建筑用玻璃
· 触碰屏幕和平面显示器
· OLED and LED 应用
· Smart-glass应用
· 透明抗静电箔片
· Solar cell 太阳能电池
· 除冰和加热应用
· 石墨稀电性测量
· ITO/PET
· Ag nanowires
