产品资讯/ PRODUCTS / Vine 薄膜厚度检测仪
Vine 薄膜厚度检测仪 Vine 薄膜厚度检测仪
規格：
- 纳米至微米级厚度测量范围（500 nm–400 ㎛）
- 非接触式和非破坏式检测
- 适用各种基材（晶圆、玻璃、金属、塑料等）
- 操作简易快速
聯繫窗口： sales@scientek-co.com
DESCRIPTION
应用范围：§ 半导体：SiO2、Si3N4、SiC、TiO2、氮化镀层、光阻剂（例如：SU-8）
§ 平板显示器、触控面板、太阳能电池：TCO、CdS、CIGS、ZnO、电池间隙、ITO、MgO、Al2O3
§ PCB保护涂层
§ 硬质涂层
§ 隐形眼镜涂层
§ 薄膜：PET、PMMA、PE、涂层膜、压克力树脂、AR涂层
