产品资讯/ PRODUCTS /四点纳米探针 for SEM
四点纳米探针 for SEM四点纳米探针
規格：
规格：
XY范围 粗定位：±3毫米，步长为±150纳米
精细定位：≤1微米，步长为10纳米*
Z范围
粗定位：±1.5毫米，步长为150纳米
精细定位：≤1微米，步长为10纳米*
样品尺寸：10毫米 × 10毫米 × 1毫米
重量：≤1000克
聯繫窗口： sales@scientek-co.com
DESCRIPTION
特点：该系统安装在SEM平台上，在亚微米区域内测量四点电性
四组独立的探针都可以进行三维控制
