产品资讯/ PRODUCTS /潘氏低温原子力/穿隧显微镜 LT AFM/STM
潘氏低温原子力/穿隧显微镜 LT AFM/STM潘氏低温原子力/穿隧显微镜 LT AFM/STM
規格：
潘式低温扫描探针显微镜系统是由美国RHK Technology公司制造的，主要特点包括：
- PAN STM/AFM扫描头体积极小（2.96" x 1.55"）
- 样品X-Y-Z方向的大范围移动（5mm x 5mm x 10mm）
- 工作温度包括低温300mK、室温、变温和高温多种范围
- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统，原位针尖与样品更换
- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体
- 与RHK最新全数字R9控制器一同使用 适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。
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DESCRIPTION
潘式低温扫描探针显微镜系统是由美国RHK Technology公司制造的，主要特点包括：
- PAN STM/AFM扫描头体积极小（2.96" x 1.55"）
- 样品X-Y-Z方向的大范围移动（5mm x 5mm x 10mm）
- 工作温度包括低温300mK、室温、变温和高温多种范围
- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统，原位针尖与样品更换
- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体
- 与RHK最新全数字R9控制器一同使用 适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。
