变温原子力/ 穿隧显微镜VT AFM/STM变温原子力/ 穿隧显微镜VT AFM/STM

規格:

RHK变温-变磁场扫描探针显微镜系统(STM/AFM)具有以下五个特点:

1)在SPM扫描过程中连续变化磁场,且无需将SPM探针退回;
2)所施加的磁场为面内的,最高达10,000 Gauss;样品尺寸约1cm;
3)利用电磁铁提供可逆、连续变化的磁场;
4)磁场强度精确可控,重复性极好;
5)磁场的施加对SPM扫描精度、分辨率、稳定性和振动隔离没有任何影响。

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DESCRIPTION

RHK变温-变磁场扫描探针显微镜系统(STM/AFM)具有以下五个特点:

1)在SPM扫描过程中连续变化磁场,且无需将SPM探针退回;
2)所施加的磁场为面内的,最高达10,000 Gauss;样品尺寸约1cm;
3)利用电磁铁提供可逆、连续变化的磁场;
4)磁场强度精确可控,重复性极好;
5)磁场的施加对SPM扫描精度、分辨率、稳定性和振动隔离没有任何影响。