產品資訊/ PRODUCTS /潘氏低溫原子力/ 穿隧顯微鏡LT AFM/STM
潘氏低溫原子力/ 穿隧顯微鏡LT AFM/STM潘氏低溫原子力/ 穿隧顯微鏡LT AFM/STM
規格：
潘式低溫掃描探針顯微鏡系統是由美國RHK Technology公司製造的，主要特點包括：
- PAN STM/AFM掃描頭體積極小（2.96" x 1.55"）
- 樣品X-Y-Z方向的大範圍移動（5mm x 5mm x 10mm）
- 工作溫度包括了低溫300mK、室溫、變溫和高溫多種範圍
- 內建彈簧和渦流阻尼減震系統，原位探針與樣品更換
- 相容多種Flow式或Bath式低溫恆溫器與磁體
- 與RHK最新全數位R9控制器一同使用 適用於拓撲絕緣體、低溫超導、表面結構、電學測量等表面科學研究中。
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DESCRIPTION
潘式低溫掃描探針顯微鏡系統是由美國RHK Technology公司製造的，主要特點包括：
- PAN STM/AFM掃描頭體積極小（2.96" x 1.55"）
- 樣品X-Y-Z方向的大範圍移動（5mm x 5mm x 10mm）
- 工作溫度包括了低溫300mK、室溫、變溫和高溫多種範圍
- 內建彈簧和渦流阻尼減震系統，原位探針與樣品更換
- 相容多種Flow式或Bath式低溫恆溫器與磁體
- 與RHK最新全數位R9控制器一同使用 適用於拓撲絕緣體、低溫超導、表面結構、電學測量等表面科學研究中。
