ข้อมูลบริษัท
เกี่ยวกับเรา
ค่านิยมหลัก
ประวัติศาสตร์
ธุรกิจ
ข่าว
ข้อมูลสินค้า
วัสดุที่มีลักษณะเฉพาะ / วัสดุสิ้นเปลือง
CNT(แคร์บอนนาโนทิวบ์)
นาโนซัสเพนชันของไซลิกอนไดออกไซด์
AFM tips
GRAPHENE
Tekna ผงรูปทรงกลม / ผงนาโน
อุปกรณ์กระบวนการ
ระบบฉาบตัวอะตอม Anric
ระบบการจัดการก่อนใช้กล้องจุลทรรศน์สแกน
ระบบฉีดกัมมันต์เคมีเสริมพลาสม่าสำหรับ TEOS หลายชิ้น
ระบบเอชติ้งแพลสมาและทำลายชิ้นส่วนพลาสมาโดยมีหลายห้อง
ระบบฉาบเคมีเพิ่มความหนาแน่นด้วยเพลสมา (PECVD)
ระบบการเป่าลมเคมีเพิ่มแรงดันก๊าซ PP1000 PECVD
ระบบการเปริมาณของแก๊สทางกายภาพ PVD
ระบบการฉาบชั้นอะตอม FlexAL ALD
เครื่องเติมโอซเมียมความละเอียดสูงของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
เครื่องมือการวัดและวิเคราะห์
OEG การวัดแสง
SURAGUS เครื่องวัดความต้านทานและความหนาของฟิล์มแบบไม่สัมผัส
SITA ความบริสุทธิ์ / แรงตึงผิว / การวิเคราะห์ลักษณะฟอง
VINE การวัดความหนาของฟิล์ม
TEMIC SEM กล้องจุลทรรศน์ด้านนำเสนอ (ของแข็ง/ของเหลว)
XPS/ESCA สเปกโตรสโคปีที่ใช้รังสีเอ็กซ์ในการวิเคราะห์สารเคมี/สเปกโตรสโคปีสำหรับการวิเคราะห์สารเคมี
Precision เครื่องส่องกล้อง X-ray ในตู้สำหรับเซลล์ / สัตว์
Unisoku
IMAGE
SPM การวิเคราะห์รูปร่างผิว
STM การวิเคราะห์รูปร่างผิว
SEM การวิเคราะห์รูปร่างพื้นผิว
Nano-indenter การวิเคราะห์แรง-เคลื่อนที่ของวัสดุ
เครื่องตรวจจับก๊าซโรงงาน
CM4 เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
Vertex เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
Vertex-M เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
MIDAS เครื่องตรวจจับก๊าซแบบอิเล็กโทรเคมี
MIDAS-M เครื่องตรวจจับก๊าซแบบอิเล็กโทรเคมี
Satellite XT เครื่องตรวจจับก๊าซแบบอิเล็กโทรเคมี
ACM 150 FT-IR ระบบตรวจสอบก๊าซ
Sensepoint XCD เครื่องตรวจจับก๊าซป้องกันระเบิด
RAEGuard 2 PID เครื่องตรวจจับสารประกอบที่หลอมง่าย (VOC)
SPM Flex เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
MIDAS เครื่องตรวจจับก๊าซพกพา
BW Clip4 เครื่องตรวจจับก๊าซพกพาหลายชนิด
BW Ultra เครื่องตรวจจับก๊าซพกพาหลายชนิด
BW Solo เครื่องตรวจจับพกพา
Riken เครื่องตรวจจับสารเคมีด้วยกระแสไฟฟ้า
Vertex Edge紙帶式氣體偵測器
เครื่องตรวจจับก๊าซแบบเทปกระดาษ
เครื่องตรวจจับก๊าซแบบไฟฟ้าเคมี
FT-IR ระบบตรวจสอบก๊าซแบบรวมศูนย์
เครื่องตรวจจับก๊าซป้องกันการระเบิด
ครื่องตรวจจับก๊าซแบบพกพา
อุปกรณ์ผลิต/การผลิต
OIPT
CVI
TANKA อุปกรณ์การเตรียมวัสดุนาโนและรูปทรงกลม
SURAGUS เครื่องวัดความต้านทานและความหนาของฟิล์มแบบไม่สัมผัส
เครื่องแยกชิ้นเสียงาน SELA
วัสดุกึ่งตัวนำ
ระบบการฉีดฉีดเป็นเม็ด
บริการฉีดเม็ดอนุภาค
SELA
สเปกโตรสโคปีที่ใช้รังสีเอ็กซ์ในการวิเคราะห์สารเคมี/สเปกโตรสโคปีสำหรับการวิเคราะห์สารเคมี
HoneyWell
สาขาวิชาการ
ระบบคริโอเจนิก Bluefors
ระบบคริโอเจนิก CIA
กล้องจุ่มอุปรณ์สแกนนิ่ง RHK
กล้องจุ่มอุปรณ์สแกนนิ่ง Unisoku
อุปกรณ์ทนความร้อนสูง CVI
สเปกโตรสโคปีที่ใช้รังสีเอ็กซ์ในการวิเคราะห์สารเคมี/สเปกโตรสโคปีสำหรับการวิเคราะห์สารเคมี
Qdevil ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ควอนตัม/อุณหภูมิต่ำ
การวิจัยควอนตัม
ระบบตรวจจับก๊าซและการรวมระบบการตรวจสอบโรงงาน
สินค้าตัวแทน
HONEYWELL
Thermo Fisher Scientific
MSP
SURAGUS
TEMIC
SELA
SITA
GRAFENIA
OEG
อาชีพ
สวัสดิการสำหรับพนักงาน
การสรรหา
ติดต่อเรา
ไทย
繁中
简中
English
日語
한국어
Tiếng Việt
ผลิตภัณฑ์ตัวแทน
ผลิตภัณฑ์ตัวแทน
/ BRANDS /
HONEYWELL
เครื่องตรวจจับก๊าซ
ตัวกำเนิด
ระบบตรวจจับก๊าซและการรวมระบบการตรวจสอบโรงงาน
Thermo Fisher Scientific
เครื่องมือวัด/วิเคราะห์
MSP
วัสดุพิเศษ/วัสดุอุปกรณ์ใช้สิ้นเปลือง
ตัวแปร
SURAGUS
อุปกรณ์การผลิต/อุปกรณ์การผลิต
TEMIC
การวัด/การวิเคราะห์
SELA
อุปกรณ์การผลิต/อุปกรณ์การผลิต
SITA
การวัด/การวิเคราะห์
GRAFENIA
บริการเมล็ดพันธุ์ขนาดเล็ก
OEG
การวัดแสง
Nano Silica
AppNano
MIKROMASCH
NanoWord
วัสดุพิเศษ/วัสดุที่ใช้จ่าย
BugetSensors
GRAPHENE
XG Science
วัสดุพิเศษ/วัสดุที่ใช้จ่าย
Graphenea
วัสดุพิเศษ/วัสดุที่ใช้จ่าย
CIA
สาขาวิชาการ
BlueFors
สาขาวิชาการ
Anric
อุปกรณ์กระบวนการ
Meiwafosis
อุปกรณ์กระบวนการ
VINE
การวัด/การวิเคราะห์
TEMIC
TVGS
Faxitron Bioptics,LLC
Unisoku
เครื่องมือการวัดและวิเคราะห์
สาขาวิชาการ
RHK
สาขาวิชาการ
อุปกรณ์การวิเคราะห์/ตรวจจับ
IMAGE
เครื่องมือการวัดและวิเคราะห์
JAG
OIPT
เครื่องจักรผลิต
CVI
อุปกรณ์การผลิต/อุปกรณ์การผลิต
CNT
TEKNA
อุปกรณ์การผลิต/อุปกรณ์การผลิต
Precision
การวัด/การวิเคราะห์
Vine เครื่องวัดความหนาของฟิล์มบาง
Vine เครื่องวัดความหนาของฟิล์มบาง
1
1 หน้าหนังสือ
