ข้อมูลบริษัท
เกี่ยวกับเรา
ค่านิยมหลัก
ประวัติศาสตร์
ธุรกิจ
ข่าว
ข้อมูลสินค้า
วัสดุที่มีลักษณะเฉพาะ / วัสดุสิ้นเปลือง
CNT(แคร์บอนนาโนทิวบ์)
นาโนซัสเพนชันของไซลิกอนไดออกไซด์
AFM tips
GRAPHENE
Tekna ผงรูปทรงกลม / ผงนาโน
อุปกรณ์กระบวนการ
ระบบฉาบตัวอะตอม Anric
ระบบการจัดการก่อนใช้กล้องจุลทรรศน์สแกน
ระบบฉีดกัมมันต์เคมีเสริมพลาสม่าสำหรับ TEOS หลายชิ้น
ระบบเอชติ้งแพลสมาและทำลายชิ้นส่วนพลาสมาโดยมีหลายห้อง
ระบบฉาบเคมีเพิ่มความหนาแน่นด้วยเพลสมา (PECVD)
ระบบการเป่าลมเคมีเพิ่มแรงดันก๊าซ PP1000 PECVD
ระบบการเปริมาณของแก๊สทางกายภาพ PVD
ระบบการฉาบชั้นอะตอม FlexAL ALD
เครื่องเติมโอซเมียมความละเอียดสูงของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
เครื่องมือการวัดและวิเคราะห์
OEG การวัดแสง
SURAGUS เครื่องวัดความต้านทานและความหนาของฟิล์มแบบไม่สัมผัส
SITA ความบริสุทธิ์ / แรงตึงผิว / การวิเคราะห์ลักษณะฟอง
VINE การวัดความหนาของฟิล์ม
TEMIC SEM กล้องจุลทรรศน์ด้านนำเสนอ (ของแข็ง/ของเหลว)
XPS/ESCA สเปกโตรสโคปีที่ใช้รังสีเอ็กซ์ในการวิเคราะห์สารเคมี/สเปกโตรสโคปีสำหรับการวิเคราะห์สารเคมี
Precision เครื่องส่องกล้อง X-ray ในตู้สำหรับเซลล์ / สัตว์
Unisoku
IMAGE
SPM การวิเคราะห์รูปร่างผิว
STM การวิเคราะห์รูปร่างผิว
SEM การวิเคราะห์รูปร่างพื้นผิว
Nano-indenter การวิเคราะห์แรง-เคลื่อนที่ของวัสดุ
เครื่องตรวจจับก๊าซโรงงาน
CM4 เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
Vertex เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
Vertex-M เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
MIDAS เครื่องตรวจจับก๊าซแบบอิเล็กโทรเคมี
MIDAS-M เครื่องตรวจจับก๊าซแบบอิเล็กโทรเคมี
Satellite XT เครื่องตรวจจับก๊าซแบบอิเล็กโทรเคมี
ACM 150 FT-IR ระบบตรวจสอบก๊าซ
Sensepoint XCD เครื่องตรวจจับก๊าซป้องกันระเบิด
RAEGuard 2 PID เครื่องตรวจจับสารประกอบที่หลอมง่าย (VOC)
SPM Flex เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
MIDAS เครื่องตรวจจับก๊าซพกพา
BW Clip4 เครื่องตรวจจับก๊าซพกพาหลายชนิด
BW Ultra เครื่องตรวจจับก๊าซพกพาหลายชนิด
BW Solo เครื่องตรวจจับพกพา
Riken เครื่องตรวจจับสารเคมีด้วยกระแสไฟฟ้า
Vertex Edge紙帶式氣體偵測器
เครื่องตรวจจับก๊าซแบบเทปกระดาษ
เครื่องตรวจจับก๊าซแบบไฟฟ้าเคมี
FT-IR ระบบตรวจสอบก๊าซแบบรวมศูนย์
เครื่องตรวจจับก๊าซป้องกันการระเบิด
ครื่องตรวจจับก๊าซแบบพกพา
เซ็นเซอร์รั่ว
อุปกรณ์ผลิต/การผลิต
OIPT
CVI
TANKA อุปกรณ์การเตรียมวัสดุนาโนและรูปทรงกลม
SURAGUS เครื่องวัดความต้านทานและความหนาของฟิล์มแบบไม่สัมผัส
เครื่องแยกชิ้นเสียงาน SELA
วัสดุกึ่งตัวนำ
ระบบการฉีดฉีดเป็นเม็ด
บริการฉีดเม็ดอนุภาค
SELA
สเปกโตรสโคปีที่ใช้รังสีเอ็กซ์ในการวิเคราะห์สารเคมี/สเปกโตรสโคปีสำหรับการวิเคราะห์สารเคมี
HoneyWell
สาขาวิชาการ
ระบบคริโอเจนิก Bluefors
ระบบคริโอเจนิก CIA
กล้องจุ่มอุปรณ์สแกนนิ่ง RHK
กล้องจุ่มอุปรณ์สแกนนิ่ง Unisoku
อุปกรณ์ทนความร้อนสูง CVI
สเปกโตรสโคปีที่ใช้รังสีเอ็กซ์ในการวิเคราะห์สารเคมี/สเปกโตรสโคปีสำหรับการวิเคราะห์สารเคมี
ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ควอนตัม/อุณหภูมิต่ำ
การวิจัยควอนตัม
ระบบตรวจจับก๊าซและการรวมระบบการตรวจสอบโรงงาน
สินค้าตัวแทน
HONEYWELL
Thermo Fisher Scientific
MSP
SURAGUS
TEMIC
SELA
SITA
GRAFENIA
OEG
อาชีพ
สวัสดิการสำหรับพนักงาน
การสรรหา
ติดต่อเรา
ไทย
繁中
简中
English
日語
한국어
Tiếng Việt
ข้อมูลผลิตภัณฑ์
ข้อมูลผลิตภัณฑ์
/ PRODUCTS /
วัสดุที่มีลักษณะเฉพาะ / วัสดุสิ้นเปลือง
CNT(แคร์บอนนาโนทิวบ์)
นาโนซัสเพนชันของไซลิกอนไดออกไซด์
AFM tips
GRAPHENE
Tekna ผงรูปทรงกลม / ผงนาโน
อุปกรณ์กระบวนการ
ระบบฉาบตัวอะตอม Anric
ระบบการจัดการก่อนใช้กล้องจุลทรรศน์สแกน
ระบบฉีดกัมมันต์เคมีเสริมพลาสม่าสำหรับ TEOS หลายชิ้น
ระบบเอชติ้งแพลสมาและทำลายชิ้นส่วนพลาสมาโดยมีหลายห้อง
ระบบฉาบเคมีเพิ่มความหนาแน่นด้วยเพลสมา (PECVD)
ระบบการเป่าลมเคมีเพิ่มแรงดันก๊าซ PP1000 PECVD
ระบบการเปริมาณของแก๊สทางกายภาพ PVD
ระบบการฉาบชั้นอะตอม FlexAL ALD
เครื่องเติมโอซเมียมความละเอียดสูงของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
เครื่องมือการวัดและวิเคราะห์
OEG การวัดแสง
SURAGUS เครื่องวัดความต้านทานและความหนาของฟิล์มแบบไม่สัมผัส
SITA ความบริสุทธิ์ / แรงตึงผิว / การวิเคราะห์ลักษณะฟอง
VINE การวัดความหนาของฟิล์ม
TEMIC SEM กล้องจุลทรรศน์ด้านนำเสนอ (ของแข็ง/ของเหลว)
XPS/ESCA สเปกโตรสโคปีที่ใช้รังสีเอ็กซ์ในการวิเคราะห์สารเคมี/สเปกโตรสโคปีสำหรับการวิเคราะห์สารเคมี
Precision เครื่องส่องกล้อง X-ray ในตู้สำหรับเซลล์ / สัตว์
Unisoku
IMAGE
SPM การวิเคราะห์รูปร่างผิว
STM การวิเคราะห์รูปร่างผิว
SEM การวิเคราะห์รูปร่างพื้นผิว
Nano-indenter การวิเคราะห์แรง-เคลื่อนที่ของวัสดุ
เครื่องตรวจจับก๊าซโรงงาน
CM4 เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
Vertex เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
Vertex-M เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
MIDAS เครื่องตรวจจับก๊าซแบบอิเล็กโทรเคมี
MIDAS-M เครื่องตรวจจับก๊าซแบบอิเล็กโทรเคมี
Satellite XT เครื่องตรวจจับก๊าซแบบอิเล็กโทรเคมี
ACM 150 FT-IR ระบบตรวจสอบก๊าซ
Sensepoint XCD เครื่องตรวจจับก๊าซป้องกันระเบิด
RAEGuard 2 PID เครื่องตรวจจับสารประกอบที่หลอมง่าย (VOC)
SPM Flex เครื่องตรวจจับก๊าซแบบกระดาษ
MIDAS เครื่องตรวจจับก๊าซพกพา
BW Clip4 เครื่องตรวจจับก๊าซพกพาหลายชนิด
BW Ultra เครื่องตรวจจับก๊าซพกพาหลายชนิด
BW Solo เครื่องตรวจจับพกพา
Riken เครื่องตรวจจับสารเคมีด้วยกระแสไฟฟ้า
Vertex Edge紙帶式氣體偵測器
เครื่องตรวจจับก๊าซแบบเทปกระดาษ
เครื่องตรวจจับก๊าซแบบไฟฟ้าเคมี
FT-IR ระบบตรวจสอบก๊าซแบบรวมศูนย์
เครื่องตรวจจับก๊าซป้องกันการระเบิด
ครื่องตรวจจับก๊าซแบบพกพา
เซ็นเซอร์รั่ว
อุปกรณ์ผลิต/การผลิต
OIPT
CVI
TANKA อุปกรณ์การเตรียมวัสดุนาโนและรูปทรงกลม
SURAGUS เครื่องวัดความต้านทานและความหนาของฟิล์มแบบไม่สัมผัส
เครื่องแยกชิ้นเสียงาน SELA
วัสดุกึ่งตัวนำ
ระบบการฉีดฉีดเป็นเม็ด
บริการฉีดเม็ดอนุภาค
SELA
สเปกโตรสโคปีที่ใช้รังสีเอ็กซ์ในการวิเคราะห์สารเคมี/สเปกโตรสโคปีสำหรับการวิเคราะห์สารเคมี
HoneyWell
สาขาวิชาการ
ระบบคริโอเจนิก Bluefors
ระบบคริโอเจนิก CIA
กล้องจุ่มอุปรณ์สแกนนิ่ง RHK
กล้องจุ่มอุปรณ์สแกนนิ่ง Unisoku
อุปกรณ์ทนความร้อนสูง CVI
สเปกโตรสโคปีที่ใช้รังสีเอ็กซ์ในการวิเคราะห์สารเคมี/สเปกโตรสโคปีสำหรับการวิเคราะห์สารเคมี
ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ควอนตัม/อุณหภูมิต่ำ
การวิจัยควอนตัม
ระบบตรวจจับก๊าซและการรวมระบบการตรวจสอบโรงงาน
WatchGas NEO เครื่องตรวจจับก๊าซแบบมือถือ
Riken SP-220 SC เครื่องตรวจจับก๊าซแบบดูดแบบมือถือ
WatchGas Poli เครื่องตรวจจับก๊าซแบบพกพา
WatchGas QGM เครื่องตรวจวัดก๊าซแบบมือถือ
WatchGas PDM+ เครื่องตรวจจับก๊าซพกพา
WatchGas UNI ครื่องตรวจจับก๊าซแบบยั่งยืน
1
2
3