ผลิตภัณฑ์ตัวแทน / BRANDS /
กล้องจุลทรรศน์แบบพันเพื่อการวิจัยที่อุณหภูมิต่ำ LT AFM/STMกล้องจุลทรรศน์แบบพันเพื่อการวิจัยที่อุณหภูมิต่ำ LT AFM/STM
Features and benefitsระบบกล้องจุลทรรศน์สแกนด้วยโปรบ์แบบแป้นของระบบการตรวจจับอุณหภูมิต่ำที่ผลิตโดยบริษัท RHK Technology ของสหรัฐอเมริกา มีคุณสมบัติหลักดังนี้:
- หัวสแกน PAN STM/AFM มีขนาดเล็กมาก (2.96 นิ้ว x 1.55 นิ้ว).
- การเคลื่อนที่ของตัวอย่างในทิศทาง X-Y-Z มีขอบเขตใหญ่ (5 มม. x 5 มม. x 10 มม.).
- อุณหภูมิการทำงานครอบคลุมทั้งอุณหภูมิต่ำ 300mK, อุณหภูมิห้อง, อุณหภูมิแปรผันและอุณหภูมิสูงในหลากหลายระดับ.
- มีระบบแก้มลวดและระบบกันสั่นทางกระแทกในตัว สามารถเปลี่ยนเทปโครงของตัวตรวจจับและตัวอย่างที่จุด.
- สามารถใช้งานร่วมกับ Cryostat แบบ Flow หรือ Bath และแม่เหล็กหลากหลายชนิด.
- ใช้งานร่วมกับคอนโทรลเลอร์ R9 ที่เป็นเลขฐานเต็มที่ล่าสุดของ RHK.
- เหมาะสำหรับการศึกษาด้านวิทยาศาสตร์พื้นผิว เช่น ภูมิศาสตร์ส่วนบน, วัสดุสู่ภูมิศาสตร์ต่ำ, โครงสร้างพื้นผิว, การวัดความดันไฟฟ้า และงานวิจัยที่เกี่ยวข้องกับพื้นผิว.
Contact window：sales@scientek-co.com
DESCRIPTION
ระบบกล้องจุลทรรศน์สแกนด้วยโปรบ์แบบแป้นของระบบการตรวจจับอุณหภูมิต่ำที่ผลิตโดยบริษัท RHK Technology ของสหรัฐอเมริกา มีคุณสมบัติหลักดังนี้:
- หัวสแกน PAN STM/AFM มีขนาดเล็กมาก (2.96 นิ้ว x 1.55 นิ้ว).
- การเคลื่อนที่ของตัวอย่างในทิศทาง X-Y-Z มีขอบเขตใหญ่ (5 มม. x 5 มม. x 10 มม.).
- อุณหภูมิการทำงานครอบคลุมทั้งอุณหภูมิต่ำ 300mK, อุณหภูมิห้อง, อุณหภูมิแปรผันและอุณหภูมิสูงในหลากหลายระดับ.
- มีระบบแก้มลวดและระบบกันสั่นทางกระแทกในตัว สามารถเปลี่ยนเทปโครงของตัวตรวจจับและตัวอย่างที่จุด.
- สามารถใช้งานร่วมกับ Cryostat แบบ Flow หรือ Bath และแม่เหล็กหลากหลายชนิด.
- ใช้งานร่วมกับคอนโทรลเลอร์ R9 ที่เป็นเลขฐานเต็มที่ล่าสุดของ RHK.
- เหมาะสำหรับการศึกษาด้านวิทยาศาสตร์พื้นผิว เช่น ภูมิศาสตร์ส่วนบน, วัสดุสู่ภูมิศาสตร์ต่ำ, โครงสร้างพื้นผิว, การวัดความดันไฟฟ้า และงานวิจัยที่เกี่ยวข้องกับพื้นผิว.
