ข้อมูลผลิตภัณฑ์ / PRODUCTS /ตัวสำรวจนาโนสี่จุด for SEM
ตัวสำรวจนาโนสี่จุด for SEMตัวสำรวจนาโนสี่จุด
specification:
ข้อมูลสเปก:
ช่วง XY
การปรับตำแหน่งหยาบ
±3 มม.ด้วยการเคลื่อนที่ 150 นาโนเมตร
การปรับตำแหน่งละเอียด
≤1 ไมโครเมตร ด้วยการเคลื่อนที่ 10 นาโนเมตร*
ช่วง Z
การปรับตำแหน่งหยาบ
±1.5 มม. ด้วยการเคลื่อนที่ 150 นาโนเมตร
การปรับตำแหน่งละเอียด
≤1 ไมโครเมตร ด้วยการเคลื่อนที่ 10นาโนเมตร*
ขนาดตัวอย่าง
10 มม. × 10 มม. × 1 มม.
น้ำหนัก
≤1000 กรัม
Contact window: sales@scientek-co.com