ข้อมูลผลิตภัณฑ์ / PRODUCTS /จอมแขนกับกล้องจุลทรรศน์แรงดันแบบอุณหภูมิต่ำ/ตัวตรวจวัดการสแกนทางอนุภาค LT AFM/STM
จอมแขนกับกล้องจุลทรรศน์แรงดันแบบอุณหภูมิต่ำ/ตัวตรวจวัดการสแกนทางอนุภาค LT AFM/STMจอมแขนกับกล้องจุลทรรศน์แรงดันแบบอุณหภูมิต่ำ/ตัวตรวจวัดการสแกนทางอนุภาค LT AFM/STM
specification：
ระบบวิเคราะห์พื้นผิวด้วยตลับแบบ QuadraProbe รักษาให้ตัวอย่างและตลับ STM 4 ตัวทำงานอย่างมั่นคงในช่วงเวลายาวนานที่อุณหภูมิ 10K โดยมีความละเอียดของแต่ละตัวอย่างที่สูงถึงระดับอะตอม บนตัวตลับ 4 ตัวจะมี SEM ที่สามารถควบคุมความละเอียดสูงเพื่อการปรับตำแหน่งและการนำทางของตัวตลับ ในห้องวิเคราะห์ตัวอย่างยังมีการเลือกติดตั้ง XPS, UPS, ISS, Auger, LEED และ SAM เป็นต้น RHK ได้กำหนดคอนโทรลเลอร์รุ่นล่าสุด R9 ไว้ในระบบตัวตลับ 4 ตัวนี้ เพื่อให้ผู้ใช้สามารถควบคุมตัวตลับแต่ละตัวแยกต่างหากได้
Contact window： sales@scientek-co.com
DESCRIPTION
ระบบวิเคราะห์พื้นผิวด้วยตลับแบบ QuadraProbe รักษาให้ตัวอย่างและตลับ STM 4 ตัวทำงานอย่างมั่นคงในช่วงเวลายาวนานที่อุณหภูมิ 10K โดยมีความละเอียดของแต่ละตัวอย่างที่สูงถึงระดับอะตอม บนตัวตลับ 4 ตัวจะมี SEM ที่สามารถควบคุมความละเอียดสูงเพื่อการปรับตำแหน่งและการนำทางของตัวตลับ ในห้องวิเคราะห์ตัวอย่างยังมีการเลือกติดตั้ง XPS, UPS, ISS, Auger, LEED และ SAM เป็นต้น RHK ได้กำหนดคอนโทรลเลอร์รุ่นล่าสุด R9 ไว้ในระบบตัวตลับ 4 ตัวนี้ เพื่อให้ผู้ใช้สามารถควบคุมตัวตลับแต่ละตัวแยกต่างหากได้