企業情報
会社概要
経営理念
科栄の歴史
グローバル拠点
ニュース
事業・製品
特徴的な素材 / 消耗品
CNT(カーボンナノチューブ)
二酸化ケイ素ナノサスペンション
AFM tips
GRAPHENE
Tekna 球状粉末 / ナノ粉末
プロセス装置
原子堆積システム Anric
走査型電子顕微鏡前処理システム
プラズマ増強化学気相成長システム(TEOSマルチウェーハ処理用)
複数チャンバーを備えた誘導結合プラズマエッチングシステム
プラズマ増強化学気相成長システム (PECVD)
プラズマ増強化学気相成長システム PP1000 PECVD
物理気相堆積システム PVD
原子層堆積システム FlexAL ALD
電子顕微鏡高解像度オスミウムコーティングマシン
計測/分析機器
OEG 光学測定
SURAGUS 非接触型-シート抵抗および膜厚測定器
SITA 清浄度 / 表面張力 / 泡特性分析
VINE 膜厚測定
TEMIC SEM テーブルトップ型電子顕微鏡(固体/液体)
XPS/ESCA X線光電子分光法/化学分析用X線光電子分光法
Precision 細胞/動物用X線キャビネット照射器
Unisoku
IMAGE
SPM 表面形態解析
STM 表面形態解析
SEM 表面トポグラフィー解析
Nano-indenter 材料応力ひずみ解析
工場ガス検知器
CM4 ペーパーテープガス検知器
Vertex ペーパーテープガス検知器
Vertex-M ペーパーテープガス検知器
MIDAS 電気化学式ガス検知器
MIDAS-M 電気化学式ガス検知器
Satellite XT 電気化学式ガス検知器
ACM 150 FT-IR ガス監視システム
Sensepoint XCD 防爆型ガス検知器
RAEGuard 2 PID 揮発性有機化合物(VOC)検知器
SPM Flex ペーパーテープガス検知器
MIDAS 携帯型ガス検知器
BW Clip4 マルチガス携帯型検知器
BW Ultra マルチガス携帯型検知器
BW Soloポータブルディテクター
Riken 電気化学検出器
Vertex Edge紙帶式氣體偵測器
紙テープガス検知器
電気化学式ガス検知器
FT-IR集中ガス監視システム
防爆型气体侦测器
携帯型ガス検知器
リークセンサー
製造や生産設備
OIPT
CVI
TANKA ナノ材料と球状材料の製造設備
SURAGUS 非接触型-シート抵抗および膜厚測定器
ウェハ割れ機 SELA
半導体
微粒子散布システム
微粒子散布サービス
SELA
X線光電子分光法/化学分析用X線光電子分光法
HoneyWell
学術領域関連
低温系 Bluefors
低温系 CIA
走査トンネル顕微鏡 RHK
走査トンネル顕微鏡 Unisoku
高温設備 CVI
X線光電子分光法/化学分析用X線光電子分光法
量子/低温電子部品
量子研究
ガス検知システムと工場監視統合
代理販売
HONEYWELL
Thermo Fisher Scientific
MSP
SURAGUS
TEMIC
SELA
SITA
GRAFENIA
OEG
採用
福利厚生
採用メッセージ
お問い合わせ
日本語
繁中
简中
English
한국어
ไทย
Tiếng Việt
代理製品
代理製品
/ BRANDS /
HONEYWELL
ガス検知器
半導体
ガス検知システムと工場監視統合
Thermo Fisher Scientific
測定/分析器具
MSP
特性材料/消耗品
半導体
SURAGUS
製造/生産設備
TEMIC
測定/分析
SELA
製造/生産設備
SITA
測定/分析
GRAFENIA
マイクロシードサービス
OEG
光学測定
Nano Silica
AppNano
MIKROMASCH
NanoWord
特殊材料/消耗品
BugetSensors
GRAPHENE
XG Science
特殊材料/消耗品
Graphenea
特殊材料/消耗品
CIA
学術領域
BlueFors
学術領域
Anric
プロセス設備
Meiwafosis
プロセス設備
VINE
測定/分析
TEMIC
TVGS
Faxitron Bioptics,LLC
Unisoku
計測/分析器具
学術領域
RHK
学術領域
分析/検出機器
IMAGE
計測/分析器具
JAG
OIPT
製造設備
CVI
製造/生産設備
CNT
TEKNA
製造/生産設備
Precision
測定/分析
1
2
3