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事業・製品

製品情報/ PRODUCTS /

特徴的な素材 / 消耗品
CNT(カーボンナノチューブ) 二酸化ケイ素ナノサスペンション AFM tips GRAPHENE Tekna 球状粉末 / ナノ粉末
プロセス装置
原子堆積システム Anric 走査型電子顕微鏡前処理システム プラズマ増強化学気相成長システム(TEOSマルチウェーハ処理用) 複数チャンバーを備えた誘導結合プラズマエッチングシステム プラズマ増強化学気相成長システム (PECVD) プラズマ増強化学気相成長システム PP1000 PECVD 物理気相堆積システム PVD 原子層堆積システム FlexAL ALD 電子顕微鏡高解像度オスミウムコーティングマシン
計測/分析機器
OEG 光学測定 SURAGUS 非接触型-シート抵抗および膜厚測定器 SITA 清浄度 / 表面張力 / 泡特性分析 VINE 膜厚測定 TEMIC SEM テーブルトップ型電子顕微鏡(固体/液体) XPS/ESCA X線光電子分光法/化学分析用X線光電子分光法 Precision 細胞/動物用X線キャビネット照射器 Unisoku IMAGE SPM 表面形態解析 STM 表面形態解析 SEM 表面トポグラフィー解析 Nano-indenter 材料応力ひずみ解析
工場ガス検知器
CM4 ペーパーテープガス検知器 Vertex ペーパーテープガス検知器 Vertex-M ペーパーテープガス検知器 MIDAS 電気化学式ガス検知器 MIDAS-M 電気化学式ガス検知器 Satellite XT 電気化学式ガス検知器 ACM 150 FT-IR ガス監視システム Sensepoint XCD 防爆型ガス検知器 RAEGuard 2 PID 揮発性有機化合物(VOC)検知器 SPM Flex ペーパーテープガス検知器 MIDAS 携帯型ガス検知器 BW Clip4 マルチガス携帯型検知器 BW Ultra マルチガス携帯型検知器 BW Soloポータブルディテクター Riken 電気化学検出器 Vertex Edge紙帶式氣體偵測器 紙テープガス検知器 電気化学式ガス検知器 FT-IR集中ガス監視システム 防爆型气体侦测器 携帯型ガス検知器 リークセンサー
製造や生産設備
OIPT CVI TANKA ナノ材料と球状材料の製造設備 SURAGUS 非接触型-シート抵抗および膜厚測定器 ウェハ割れ機 SELA
半導体
微粒子散布システム 微粒子散布サービス SELA X線光電子分光法/化学分析用X線光電子分光法 HoneyWell
学術領域関連
低温系 Bluefors 低温系 CIA 走査トンネル顕微鏡 RHK 走査トンネル顕微鏡 Unisoku 高温設備 CVI X線光電子分光法/化学分析用X線光電子分光法 量子/低温電子部品 量子研究
ガス検知システムと工場監視統合

パンスキャン-クローズドループ-液体ヘリウム不要-走査トンネル顕微鏡システム

R9完全デジタル化トンネル顕微鏡コントローラ

低温原子力/走査トンネル顕微鏡 LT AFM/STM

パン式低温原子力/トンネル顕微鏡 LT AFM/STM

可変温度原子間力/走査トンネル顕微鏡VT AFM/STM

希釈冷却温度/超電導磁場-走査トンネル顕微鏡

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