製品情報/ PRODUCTS /X線光電子分光法/化学分析のための電子分光法

DESCRIPTION

X 線光電子分光法 (XPS、化学分析用電子分光法 – ESCA とも呼ばれる) は、表面感度が高く、定量的な化学分析技術であり、材料に関するさまざまな問題の解決に使用できます。
XPS は、X 線が照射された物質の表面から放出される光電子の測定です。放出された光電子の運動エネルギーが測定され、これは親原子内の結合エネルギーに直接関係します。これは元素とその化学状態の特徴です。
表面近くで生成された電子のみが、検出に必要なエネルギーをあまり失わずに逃げることができます。これは、XPS データが表面の上部数ナノメートルから収集されることを意味します。この表面選択性と定量的な化学状態の同定が、XPS を幅広い応用分野で非常に価値のあるものにしています。

Nexsa XPS システム - 独自の相関分光法

シームレスな複数技術の統合を備えた高性能 XPS
 
Thermo Scientific™ Nexsa™ 表面分析システムは、完全に自動化された複数の技術を備えた機器です。新しいマイクロフォーカス X 線源を備え、高感度と高空間分解能の両方を実現する XPS を実現します。さらに、このシステムは、UPS、ISS、REELS などの他の表面分析技術のオプションを提供します。ユニークなことに、真の相関分光法を実現するために、XPS 分析位置に合わせてラマン分光計を統合するオプションもあります。これらの機能により、Nexsa は、半導体、2D 材料、薄膜、電池、ポリマー、その他多くのアプリケーションにおける新たな洞察の可能性を解き放ちます。
• 高性能 XPS
• 高速SnapMap XPSイメージング
• 深さプロファイリング
• オプションの複数技術の統合
––Raman
––ISS
––UPS
––REELS
• MAGCIS イオン源による深さプロファイリング機能の拡張
• 大量のサンプルの取り扱い
• 機器の制御、データ処理、レポート作成のための Avantage ソフトウェア
• 空気に敏感なサンプル用のオプションの移送機能

ESCALAB Xi+ XPS マイクロプローブ - パフォーマンスと多用途性

高性能 XPS と柔軟なサンプル前処理を組み合わせる
 
Thermo Scientific™ ESCALAB™ Xi+ XPS マイクロプローブは、当社の有名な ESCALAB 製品ラインの最新開発です。 ESCALAB Xi+ は、比類のない柔軟性と構成可能性を備えた、拡張可能なマルチテクニック プラットフォームとして設計されています。 システム制御、データ収集、処理、 レポートは強力な機能によってシームレスに統合されます。
Thermo Scientific™ Avantage™ XPS ソフトウェア
• 最小の特徴分析のための高解像度の定量的 XPS イメージング
• 高性能分光法
• 深さプロファイリング用のイオン源
• 碍子解析用の洪水源
• イオン散乱分光法 (ISS) を標準装備
• 反射電子エネルギー損失分光法（REELS）を標準装備
• オプションの追加テクニック:
––紫外光電子分光法 (UPS)
––オージェ電子分光法 (AES)
––微量分析 (EDS)
• オプションのMAGCISデュアルモードイオン源
• 幅広いサンプル前処理オプション:
––サンプルの加熱と冷却
––破壊段階
––不活性転送
 
K-Alpha XPS システム - 生産性を考慮した設計
XPS 表面解析のルーチン化
 
Thermo Scientific™ K-Alpha™ 分光計は、研究と日常的な XPS 分析の両方の要件を橋渡しします。高性能システム ハードウェアにより、K-Alpha 分光計は多忙な研究開発環境で世界クラスのデータを作成するのに最適です。直感的なワークフローにより、K-Alpha 分光計をマルチユーザーの共有施設に組み込むことが可能になり、あらゆるスキル レベルのオペレーターが材料分析ポートフォリオに表面分析を追加できるようになります。
 
• 高性能、フル機能の XPS システム
• 迅速な処理を容易にする機能を備えたユニークなサンプル表示 特徴の識別
• 化学状態イメージング
• 大量のサンプルの取り扱い
• 適合する可変マイクロフォーカス X 線源 分析領域から特徴まで
• 深さプロファイリング用のイオン源
• 碍子解析用の低エネルギーフラッドソース
• 自己校正用の内蔵標準